AND艾安得 分析天平 BH-324 红外挥手自动防风门，降低气流干扰，防风罩便于拆卸清洁。 内置自动砝码校准，温度变化自动校正灵敏度。 除静电装置为外置选配，可消除粉体静电漂移。 支持配方、HPLC 配液、密度测试，审计追踪 + 分级权限，满足药典合规。 冲击检测记录碰撞事件，保护称重传感器。

AND艾安得 分析天平 BH-324TE 红外挥手感应自动防风门，减少气流干扰，防风罩组件可拆卸，方便清洁。 内置自动砝码校准，温度变化自动完成灵敏度校正。 标配无风除静电装置，消除粉体静电带来的称量漂移。 支持配方配液、HPLC 溶液配制、密度测试，审计追踪与分级权限管理，满足药典合规。 冲击检测功能，记录碰撞事件，保护称重传感器。

AND艾安得 分析天平 BH-224TE 红外挥手自动防风门，减少气流干扰，腔体易清洁。 内置自动砝码校准，温度变化自动校正。 标配无风除静电装置，消除粉体静电漂移。 支持配方、HPLC 配液、密度测试，审计追踪满足药典合规。 冲击检测记录碰撞事件，保护称重传感器。

AND艾安得 分析天平 BH-124 红外非接触自动防风门，降低气流干扰，腔体易拆洗。 内置砝码自动校准，温度变化自动校正。 除静电装置外置选配，可消除粉体静电漂移。 支持配方、密度测试，审计追踪 + 分级权限，满足药典合规。 冲击检测功能，记录碰撞事件保护传感器。

AND艾安得 双量程半微量分析天平 BH-225D 红外非接触式自动防风门，降低气流干扰，腔体易清洁。 内置自动砝码校准，温度变化自动校正，减少人工操作。 除静电装置为外置选配，可消除粉体静电造成的称量漂移。 自带配方、密度测量等功能，支持审计追踪与分级权限，满足药典合规要求。 冲击检测功能可记录磕碰事件，保护传感器。